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XPS

La técnica de XPS se utiliza para analizar compuestos inorgánicos, cerámicos semiconductores, catalizadores, aleaciones metálicas, bio-materiales, tintas, nanomateriales, piezas oseas, minerales, implantes médicos, recubrimientos, entre una gran variedad de materiales.

El desempeño de estos materiales y sus características de interacción con el entorno tales como adhesión, corrosión, biocompatibilidad, lubricación, conductividad, reflectividad, catálisis, están determinadas por su estructura química y de aquí la importancia de contar con una técnica de alta sensitividad como XPS.

Con XPS se obtiene

(servicios disponibles)

Composición elemental

Detección de todos los elementos excepto H y He

Mapeo elemental y de estados químicos

En particular con el sistema PHI VersaProbe II: Información de la distribución espacial e identificar áreas para posterior microanalisis (XPS con spot min de 9um)

Estados químicos

Identificación y cuantificación de estados químicos y estados de oxidación

XPS con resolución angular (ARXPS)

Perfil de composición no destructivo sobre los primeros 10nm

Perfil de composición con erosión

Perfil de composición con erosión de iones de argón es una forma de investigar la composición y distribución de la composición y estados químicos en estructuras multicapas

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