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PHI 5000 VERSAPROBE II

Fuente UV para estructura electrónica y función de trabajo con UPS

Fuente UV para UPS
Neutralizador de carga dual

Análisis de materiales no conductores utilizando un sistema dual de neutralización de carga (patentado): haz de iones de argón y haz de electrones, de baja energía.

El sistema PHI VersaProbre II, patentado y de última generación, tiene caractéristicas excepcionales para un análisis detallado y preciso. El sistema trabaja con haz de rayos-X Al-Ka monocromático y cuyo tamaño de spot puede ser de 9 um a 200um.  Este haz de rayos-X, a diferencia de los sistemas convencionales, se produce por el escaneo de un haz de alto voltaje (15kV) sobre un ánodo de aluminio, generando a su vez un haz monocromado que escanea la superficie de la muestra. Por la generación de electrones secundarios, produce imágenes de 175um2 a 1300um2 con la que se pueden identificar caracteristicas específicas a ser analizadas.

La imagen de electrones secundarios permite un análisis preciso sobre áreas de interés. 

Imágen de electrones secundarios

Análisis dependiente de la temperatura (-100 a 600°C)

Análisis dependiente de temperatura

Este tipo de cañón suministra iones en el rango de 5 a 5kV. Los iones de alta corriente se utilizan para la erosión de películas delgadas y los de baja energía se utilizan para la neutralización de muestras no conductoras.

Control automático sobre x, y, z, rotación e inclinación.

Cinco ejes motorizados
Cañón de iones de Ar de columna flotante
  • Detección de Li, Be y B requieren de mayor tiempo de análisis debido a que la probabilidad de fotoemisión de su nivel profundo, es baja (señal débil)

  • El límite de detección es de 1 átomo en 1000 (0.1% atm)

  • Algunos materiales blandos como polímeros o biomateriales, pueden degradarse durante análisis prolongados.

  • Las muestras pueden liberar gases (O2, N2, CO, CO2) y líquidos (agua, elastómeros, solventes) en ultra alto vacío.

  • La incertidumbre  en el valor del % atómico depende de la intensidad de la señal. En señales intensas: ~ +/- 10%, y en señales débiles: +/- 30%

  • En nuestros servicios excluimos el análisis del perfil de composición con erosión de iones de argón en: polímeros, orgánicos y materiales blandos

Especificaciones generales de  XPS 

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