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Técnico responsable

M. en C. Beatriz Adriana Rivera Escoto.

Principio básico de la técnica​

En la Fluorescencia de rayos X, los rayos X son generados por una fuente que puede ser un tubo de rayos X, un sincrotrón o un material radiactivo, para ser irradiados sobre una muestra. Los elementos que se encuentran presentes en la muestra emitirán radiación fluorescente de rayos X. Cada átomo tiene niveles específicos de energía, de forma que la radiación emitida es característica de ese átomo. Un átomo emite más de una sola energía debido a que se pueden producir vacantes en diferentes niveles y los electrones que llenan estas vacantes también provienen de diferentes niveles. La colección de líneas emitidas es característica de cada elemento y puede ser considerada la huella digital del elemento.El concepto básico para todos los espectrómetros es una fuente, una muestra y un sistema de detección. La fuente irradia la muestra, y el detector mide la radiación procedente de la muestra.

 

 

 

 

 

 

 

Beneficios

El método es rápido, exacto y no-destructivo. La precisión y la reproducibilidad de los análisis por Fluorescencia de rayos X son muy altas. Cuando se dispone de buen material de referencia es posible obtener resultados muy certeros, pero también en aplicaciones donde no se tienen estándares específicos.El tiempo de medición depende del número de elementos a determinar y de la exactitud requerida, y varía entre segundos y 30 minutos. El tiempo de análisis después de la medición es de solo algunos segundos.

 

Equipos especializados que emplean esta técnica en LINAN

 

 

 

 

 

Espectrómetro ZSX Primus II de la marca RIGAKU.

Con generador de rayos X de rodio con cámara

automatizada para muestrear y analizar de manera

continua.

El campo de aplicaciones es muy amplio: investigación y farmacia, industrias del metal, del cemento, alimenticia, aceites, polímeros y plásticos, junto con la minería, mineralogía y la geología. En algunas ocasiones puede ser empleada para determinar el espesor y la composición de capas y recubrimientos.

Detalles más importantes

  • La Fluorescencia de rayos X es una técnica muy sensible  por lo que las muestras deben estar limpias. Hasta las huellas digitales en una muestra pueden afectar el resultado del análisis. Para resultados precisos, el espectrómetro es ajustado para los elementos a ser analizados.

  • El análisis puede llevarse a cabo en sólidos, polvos, perlas y líquidos, para cada situación se requiere una preparación de muestra específica acorde con las capacidades del instrumento de medición.

Servicio

  • Las muestras a analizar se deben proporcionar con la preparación adecuada, de acuerdo a su estado físico, para ello hay que consultar previamente su preparación con el técnico responsable.

  • Es necesario que el laboratorio cuente con  estándares que permitan determinar el compuesto o elemento de interés del usuario.

  • El servicio NO INCLUYE interpretación de resultados, si requiere la realización del mismo es necesario notificar con anticipación, lo cual genera un costo extra.

  • La solicitud y agenda del servicio se realiza con previo pago.

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X (XRF)

  • ZSX PRIMUS II

Microscopia electrónica

  • Microscopios Electrónicos de Transmisión: HR-TEM FEI Tecnai F30 (300 keV) y TEMJEOL 200 CX (100keV)
  • Microscopios Electrónicos de Barrido: ESEM FEI-QUANTA 200, ESEM FEI-QUANTA 250 FEG y Dual Beam (FIB/SEM) FEI-Helios Nanolab 600
  • Microscopio de Fuerza Atómica: AFM Jeol JSPM-5200
 
Difracción de Rayos-X
  • Difractómetros de Rayos X – XRD: Bruker D8 Advance y SmartLab Rigaku
Depósito de películas delgadas
  • Sistema de depósito de películas por erosión catódica: Sputtering Equipment INTERCOVAMEX V3
 

Espectroscopias

  • Espectrómetro Raman: Micro-Raman Renishaw
  • Espectrómetro de Fluorescencia de rayos-X (XRF): ZSX Primus II
  • Cromatógrafo de líquidos y espectrómetro de masas: nanoACQUITY Ultra Performance Liquid Chromatography (HPLC) MS WATERS (LC/MS)
  • Espectrómetro de electrones fotoemitidos (XPS):. PHI 5000 VersaProbe II
 
Propiedades Físicas
  • Sistemas de medición de propiedades físicas: (PPMS) Quantum Design y DynaCool Quantum Design.
 
 
 
 
 
 
 
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