Microscopia electrónica

• Microscopios Electrónicos de Transmisión: HR-TEM FEI Tecnai F30 (300 keV) y TEMJEOL 200 CX (100keV)

• Microscopios Electrónicos de Barrido: ESEM FEI-QUANTA 200, ESEM FEI-QUANTA 250 FEG y Dual Beam (FIB/SEM) FEI-Helios Nanolab 600

• Microscopio de Fuerza Atómica: AFM Jeol JSPM-5200

 

Difracción de Rayos-X

• Difractómetros de Rayos X – XRD: Bruker D8 Advance y SmartLab Rigaku

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Depósito de películas delgadas

• Sistema de depósito de películas por erosión catódica: Sputtering Equipment INTERCOVAMEX V3

 

Espectroscopias

• Espectrómetro Raman: Micro-Raman Renishaw

• Espectrómetro de Fluorescencia de rayos-X (XRF): ZSX Primus II

• Cromatógrafo de líquidos y espectrómetro de masas: nanoACQUITY Ultra Performance Liquid Chromatography (HPLC) MS WATERS (LC/MS)

• Espectrómetro de electrones fotoemitidos (XPS):. PHI 5000 VersaProbe II

 

Propiedades Físicas

• Sistemas de medición de propiedades físicas: (PPMS) Quantum Design y DynaCool Quantum Design.